Facilities

光ヘテロダイン光熱変位法装置 (Laser Heterodyne Photothermal Displacement: LH-PD)

励起光照射によって生じた光励起キャリアの非発光再結合による熱膨張変位を、ヘテロダイン干渉計で検出
国内外でも当研究グループのみが所有

圧電素子光熱変換分光装置 （Piezoelectric Photo-Thermal Spectroscopy: PPT）

国内外でも当研究グループのみが所有
・CT25システム、高分解CT50システム
・温度：液体窒素温度～RT

表面光起電力分光装置 （Surface Photo-Voltage Spectroscopy: SPV）

・PPTと装置を兼用

フォトルミネッセンス分光装置 （Photoluminescnece Spectroscopy: PL）

・励起：532 nm, 473 nm (半導体励起固体レーザー)
・温度：4K～RT
・検出器：Si, InGaAs-pin, PMT, 近赤外PMT

フォトリフレクタンス分光装置 （Photo-Refrectance Spectroscopy: PR）

・PLと装置を兼用
・励起：532 nm (半導体励起固体レーザー)
・光源：300Wハロゲン, 150Wキセノン
・温度：4K～RT
・検出器：Si, InGaAs-pin, PMT, 近赤外PMT

分光感度測定装置 （Spectral Response Measurement System）