研　究　分　野
　
Research Field
半導体物性、半導体デバイスに関することはほとんど
特に物性評価（光学的、電気的、結晶構造）
　
特に、新しい手法として開発中
光熱変換分光法（圧電素子を用いた実験手法）Piezoelectric Photothermal Spectroscopy (PPTS)

この実験手法から物理量としての何が得られ、何に応用できるか....

詳しくは　こちらへ

更に次の実験技術を発展させ、従来にない感度を実現できるか.....
表面光起電力分光法　Surface Photovoltaic Spectroscopy (SPVS)


他の実験手法、評価法

フォトルミネセンス Photoluminescence 　
ラマン散乱法（顕微ラマン） Raman scattering 　
光学吸収、反射測定 Absorption, Reflectance, PR 　
光起電力、光伝導 Photoconductivity 　
電気伝導測定（抵抗率、ホール係数） Galvanomagnetic effect 　
Ｘ線回折法 X-ray Diffraction 　

PPTS 法　（圧電素子光熱分光法、Piezoelectric Photothermal Spectroscopy）の特徴 　こちらへ

(1)
 格子欠陥準位などを介する電子遷移は強い電子格子相互作用のため、非輻射遷移の確率が高い。PPTS法はこの非輻射電子遷移を直接観測できる唯一の実験手法である。
(2)
 (2) 入射光と透過光の比から相対測定する吸収係数法とは異なり、このPPTS法は吸収成分を直接測定できる絶対測定法であるため、測定感度を非常に高くできる。
(3)
 多結晶試料や結晶粒界の多い試料でも散乱光の影響を考えなくて良いため、真の吸収係数スペクトルを測定することが出来る。

　

　　　　　　　　 解説書

非発光遷移検出によるポリジヘキシルシランの光分解性評価
　福山敦彦、境健太郎、碇　哲雄、古川昌司
　超音波テクノ、2009年11-12月、Vol.11, No.6、pp.91-94
薄膜シリコン系太陽電池の最新技術
　碇　哲雄、福山敦彦
　シーエムシー出版、2009年7月、pp.107-117
圧電素子光熱分光法による半導体薄膜の評価
　碇　哲雄、福山敦彦
　日本光学会会誌、2005年2月、
圧電素子光熱分光法による微結晶シリコン薄膜の光吸収スペクトル
　碇　哲雄、境健太郎、福山敦彦
　超音波TECHNO　2004年9-10月号、pp.75-82

　

　

　

最近の研究成果

光熱変換分光法などを応用した電子材料の物性評価

陽子線を照射した太陽電池材料の劣化特性評価
Proton irradiated solar cell material CuInSe2

透明伝導性薄膜（透明電極ZnO）の光学的性質
Defect levels in Transparent conductive Oxide ZnO

化合物半導体量子井戸の光学的性質
Quantum Well structure of GaInNAs Thin Films

微結晶シリコン太陽電池の光学的性質
High rate deposition of microcrystalline Si solar cells
　

　

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