2011年9月25日-29日、宮崎観光ホテルにて14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors（DRIP-XIV）が開催されました。西岡准教授を含む宮崎大学の4名の教員（写真1）が現地実行委員として準備、運営に当たりました。

また、西岡研究室からは太田研究員（写真2）が「2-Dimensional Mapping of Power Consumption due to Electrode Resistance Using Simulator for Concentrator Photovoltaic Module」をテーマに口頭発表を行い、櫻田君〔M2〕（写真3）と矢野君〔M1〕（写真4）はそれぞれポスター発表を行いました。
外国人の方からの質問に対し、緊張と焦りはあったものの、しっかりとした受け答えができていたと思います。

今後もより一層研究に励み、活躍することを期待しています。