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15th International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics  in Semiconductors


2013年9月15-19日、9月15-19日、ポーランドのワルシャワSound Garden Hotelにて、15th International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors(DRIP-XV)が開催され、西岡准教授と野村くん(M1)が参加し成果発表を行いました。

Poster

Output estimation of concentrator photovoltaic using mappings of environmental factors and performance ratio

Kei Nomura, Yasuyuki Ota, Takashi Minemoto, and Kensuke Nishioka